半導體器件可靠性測試所需要用到的環(huán)境試驗設(shè)備
半導體器件可靠性測試
半導體產(chǎn)業(yè)屬于國民經(jīng)濟的基礎(chǔ)性支撐產(chǎn)業(yè)。無論是從科技還是經(jīng)濟的角度看，半導體的重要性都是非常巨大且難以替代的，政府對產(chǎn)業(yè)的扶持態(tài)度也十分堅定。由于技術(shù)飛速進步，新材料和新工藝不斷被用于新研發(fā)的器件中，再加上市場對產(chǎn)品設(shè)計不斷提出苛刻要求，所以可靠性設(shè)計基本不可能按照已有的產(chǎn)品進行。而半導體產(chǎn)品總是大批量生產(chǎn)的；并且修理半導體產(chǎn)品也是不實際的。所以半導體產(chǎn)品在設(shè)計階段加入可靠性的概念和在生產(chǎn)階段減少變量就成為十分必要的要求。
在器件使用的自然環(huán)境中，溫度和濕度是不可分割的兩個因素。不同地區(qū)，器件應(yīng)用于不同的地理位置，所處工作環(huán)境的溫度、濕度也各不相同。溫濕度循環(huán)試驗可以用來確認產(chǎn)品在溫濕度氣候環(huán)境條件下儲存、運輸以及使用適應(yīng)性。
科明一系列可靠性試驗設(shè)備可協(xié)助您解決這些問題，以下是為您整理的各種器件所會用的測試標準與半導體產(chǎn)業(yè)分類。
半導體產(chǎn)業(yè)分類
1、半導體產(chǎn)業(yè)
應(yīng)用于計算機、服務(wù)器、手機、有線通信、消費電子、汽車電子等諸多領(lǐng)域的核心部位?？煞譃槟M電路、微處理器、邏輯電路和存儲器四大類。
2、分立器件
主要包括晶體二極管、三極管、整流二極管、功率二極管、化合物二極管等。分立器件被廣泛應(yīng)用在家電、綠色照明、計算機、汽車電子、網(wǎng)絡(luò)通訊、工業(yè)控制等產(chǎn)品。
3、光電器件
主要是利用光、電轉(zhuǎn)換效應(yīng)所制成的各種功能器件，可分為光器件、受光器件、光復合器件等 ，包括LED、OLEO、光伏太陽能等。
4、傳感器
可分為物理傳感器、化學傳感器、生物傳感器等。主要應(yīng)用于工業(yè)自動化、工業(yè)機器人、生物工程等領(lǐng)域。
可靠性試驗等級分類
Region (I) 被稱為早夭期（Infancy period）
這個階段產(chǎn)品的 failure rate 快速下降，造成失效的原因在于IC設(shè)計和生產(chǎn)過程中的缺陷；
Region (II) 被稱為使用期（Useful life period）
在這個階段產(chǎn)品的failure rate保持穩(wěn)定，失效的原因往往是隨機的，比如溫度變化等等；
Region (III) 被稱為磨耗期（Wear-Out period）
在這個階段failure rate 會快速升高，失效的原因就是產(chǎn)品的長期使用所造成的老化等。
可靠性試驗等級分類
半導體器件可靠性測試設(shè)備
用于檢測材料在各種環(huán)境下的性能即試驗材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能以及進行高溫、低溫、交變濕熱或恒定濕熱試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)。
產(chǎn)品亮點
●運用先進的PID調(diào)節(jié)技術(shù),達到制冷不加熱;加熱不制冷效果，大大降低了設(shè)備的能耗。
●流體力學仿真精密計算，變頻技術(shù)與產(chǎn)品工藝制造技術(shù)有效降低能耗達30%。
●按照嚴格的水電分離設(shè)計方式,有效保障了設(shè)備運行的安全。
●自主研發(fā)控制器操作系統(tǒng):編程能力更廣，操控更加便捷、多級密碼管理。
●性能出色，溫濕度控制范圍廣:RT-72~+180℃、10~98%RH。
技術(shù)參數(shù) Technical parameter
測試空間容積： 100-1000升
溫度范圍： -72至+180℃
溫度變化速率：升溫：≥3℃/min；降溫：≥1℃/min
濕度范圍： 10-98%RH
溫度偏差： ±1.5℃
噪 音： 56-63 dB(A)
用于測試材料結(jié)構(gòu)或復合材料,在瞬間經(jīng)極高溫以及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，最短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。
產(chǎn)品亮點
●高低溫循環(huán)可達1000次，不結(jié)霜，溫度恢復時間小于5分鐘，轉(zhuǎn)換時間小于10秒。
●三箱式結(jié)構(gòu)，樣品不需移動，易于測試線纜連接，可自由切換兩溫和三溫模式。
●試件放置在固定的測試室內(nèi),不會隨提籃移動,相對靜止，無任何機械沖擊。
●采用彩色觸摸屏控制,界面友好,具有參數(shù)記錄功能，Error信息實時顯示,輕松排除故障。
●流體力學仿真精密計算，變頻技術(shù)與產(chǎn)品工藝制造技術(shù)有效降低能耗。
技術(shù)參數(shù) Technical parameter
測試空間容積： 50-2250升
高溫室溫度范圍： +60至+200℃
溫度恢復時間： ≤5min
試驗室溫度范圍： -72至+180℃
低溫室溫度： -80至-10℃
噪 音： 56-63 dB(A)
用于電工、電子產(chǎn)品整機及零部件進行耐寒、耐熱試驗，溫度快速變化或漸變條件下的環(huán)境應(yīng)力篩選試驗。
產(chǎn)品亮點
●產(chǎn)品采用一體式箱體設(shè)計,結(jié)構(gòu)更加合理緊湊。
●行業(yè)率先應(yīng)用的流體仿真設(shè)計技術(shù)與產(chǎn)品工藝制造技術(shù)（能耗降低30%）。
●優(yōu)化的冷凍設(shè)計,風速變頻調(diào)節(jié)，升降溫速度:5℃/min~30℃/min可選。
●溫度控制范圍廣;低溫可達-72℃，高溫可達+180℃，,溫度偏差優(yōu)于±1.5 ℃。
●采用歐美高效率壓縮機,獨特的冷凍回路設(shè)計，設(shè)備運行噪音低至60dB
技術(shù)參數(shù) Technical parameter
測試空間容積： 64-1000升
溫度范圍： -72至+180℃
溫度變化速率：升溫：≥3℃/min；降溫：≥2.5℃/min
濕度范圍： 10-98%RH
溫度偏差： ±1.5℃
噪 音： 56-63 dB(A)
用于材料精密熱處理或生產(chǎn)線干燥處理，支持溫度上升、下降斜率設(shè)定的溫度特性試驗。
產(chǎn)品亮點
●內(nèi)部結(jié)構(gòu)獨特采用一體成型加工設(shè)計和不銹鋼離心風機、軸流風機，溫度均勻性優(yōu)于同類產(chǎn)品的±1%℃誤差。
●強制對流調(diào)溫式；加熱 PID+SSR調(diào)節(jié)方式，精密溫度控制器，實現(xiàn)高精度（0.1%）、高性能。
●采用定值和程序控制:定值控制可進行自動開始結(jié)束設(shè)定；程序控制可進行多個模式設(shè)定。
●滿足局域網(wǎng)(LAN)RS232/485連接組成試驗室測控網(wǎng)絡(luò)，實現(xiàn)遠程監(jiān)控，方便用戶系統(tǒng)集成與自動化監(jiān)測。
技術(shù)參數(shù) Technical parameter
測試空間容積： 50-3456升
溫度范圍：RT.+20-+350℃
溫度均勻度：±2.0℃
溫度波動度：±0.5℃
升溫時間：RT.20→200℃,約60min
噪 音：56-63 dB(A)
用于對整機（或部件）,電器儀器,各種材料等作溫度,濕度,振動,氣壓綜合多種環(huán)境應(yīng)力篩選試驗,可選用多種升降方式對應(yīng)不同高度的振動試驗設(shè)備要求。
產(chǎn)品亮點
●獨立振動控制系統(tǒng)、恒溫恒濕控制系統(tǒng)。
●集溫濕度、振動試驗一體，也可單獨作單一測試。
●振動臺與溫度箱一體化設(shè)計。
●多種振動臺溫度箱接口連接方式。
●多種移動方案選擇（垂直、水平）
技術(shù)參數(shù) Technical parameter
測試空間容積： 408-2250升
溫度范圍： -72至+180℃
溫度變化速率：升溫：≥3℃/min；降溫：≥1℃/min
濕度范圍： 10-98%RH
振動方式： 垂直/水平/其他
噪 音： 56-63 dB(A)
用于IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于產(chǎn)品的設(shè)計階段，快速暴露產(chǎn)品設(shè)計薄弱環(huán)節(jié)或測試其制品的密封性和老化性能。
產(chǎn)品亮點
●采用干濕球傳感器直接測量(控制模式分為：干濕球、不飽和、濕潤飽和等3種模式)。
●內(nèi)膽采用雙層圓弧設(shè)計,可以防止試驗結(jié)露滴水現(xiàn)象，有效避免產(chǎn)品在試驗過程中蒸汽過熱影響試驗結(jié)果。
●采用高效真空泵，使箱內(nèi)達到最佳純凈飽和蒸汽狀態(tài);汽車級硅膠整體密封條，氣密性好。
技術(shù)參數(shù) Technical parameter
測試空間容積： 25-55升
溫度范圍：+105-+151℃(飽和濕度)；+105-+162℃(不飽和濕度)
壓力范圍：0.020-0.392Mpa
升壓時間：0-0.196Mpa約60min
濕度范圍：65-100%RH
噪 音：56-63 dB(A)
具備與以往的試驗數(shù)據(jù)的兼容性，且對應(yīng)IEC60068-2-66規(guī)格試驗。
對應(yīng)IEC60068-2-66 國際規(guī)格，科明KM-HAST系列高壓加速老化試驗箱滿足不飽和濕度控制、濕潤飽和控制2種模式。
? 在溫度上升到試樣的里面容易凝結(jié)露水的溫度時，自動提高加水的溫度 ， 使加溫水的溫度比試驗箱內(nèi)低30 ℃左右。
? 當試驗結(jié)束以后，試 驗箱自然冷卻使內(nèi)部壓力下降到0.010MP（壓力計），然后排氣 、排水。
? 用加濕加熱器控制試驗箱內(nèi)溫度（試驗箱內(nèi)溫度=加濕水溫度）
? 當試驗結(jié)束以后，試驗箱自然冷卻使內(nèi)部壓力下降到0.010MPa（壓力計），然后僅排氣 ，加濕水留下 。
